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OMRON

オムロン キリンテクノシステム株式会社 Japan

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展示会 出展情報

展示会・内覧会案内

2010年09月28日

第25回 日本国際工作機械見本市(JIMTOF 2010 25th)に出展いたします。

会期:2010/10/28(木) ~11/2(火)
公式サイト:http://www.jimtof.org/
場所:東京ビッグサイト

【当社ブースの見所】

  1. ベアリングの「ころ軌道面外観検査装置」を出展します。
  2. 金属部品の加工穴・平面・円錐外面検査の最新「外観検査装置」を出展します。

【展示機械のご案内】

  1. 「ベアリング検査装置」誕生!!微細レーザーの反射光を画像化するベアリング検査装置です。玉軸受の重要検査項目である「ころ軌道面」の専用検査装置です。

【特長】

  1. カメラと照明を使わないことにより、安定した欠陥検出が可能。(CCDカメラの画像処理では、照明によるハレーション・外乱光が検査の阻害要因となり検査自動化が困難でした)
  2. 高精度検査で0.01mm幅のキズ欠陥検出が可能。
  3. 新型ジャイロスキャン「シリンダー内面検査装置」紹介!!ジャイロスキャンは、自動車業界のエンジン・ミッション・ブレーキ部品を中心に採用頂いています。

【特長】

  1. 精度アップで、Φ0.1mmの欠陥を正確に検出可能。
  2. サイズダウンを図り、従来比1/3を実現。
  3. 目視検査が困難な加工穴の内面検査の自動化・品質向上が可能。
  4. 「金属部品平面検査装置」紹介!!レーザーとCCDカメラ双方の特長を生かしアルミダイキャスト部品の平面部分の欠陥検査を行います。

【特長】検査の均一性に優れ、扱いやすさを実現。

  1. 「円錐部品外面検査装置」紹介!!
    円錐外面検査をレーザーの反射光を利用して行います。

【特長】
正確な検査が難しい円錐型部品の外面検査が可能。開催期間中は、技術的なご相談もお受けできますので、お気軽に当社ブースW3037(西3・4ホール)にお立ち寄り下さい。

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